Zuverlässiges Docking für den Semiconductor Test
Unsere Docking Platten sind speziell angepasst für alle gängigen Handler- und Prober-Systeme erhältlich. Die Integration auf unsere P-Dock® und F-Dock Systeme ebenso möglich wie auf individuelle Anforderungen.
X/Y Shift für horizontale und vertikale IC-Handler
Die Universal-Dockingplatten sind unabhängig von der Testkopfgröße einsetzbar. Die Platten passen auf alle gängigen Tester Dockings (z.B. Teradyne, Advantest etc.) sowie den P-Dock Pin-Anordnungen S, M und L. Präzise Verstellung der X/Y - Rastpositionen mit einer Genauigkeit von 0,01 mm sowie die schnelle und einfache Installation machen sie zum idealen Kandidaten für den Einsatz in der Hochvolumen-Fertigung.
Docking mit einstellbarem Z-Stack
Einfachste Bedienung für vielfältige Z-Stack Anwendungen ist ein Wettbewerbsvorteil für unsere Kunden – für messbare Erhöhung der Yield Performance von bis zu 2%. UDXL-Platten sind universell im ATE Test einsetzbar, mit oder ohne das P-DockⓇ System.
